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GP300探針臺

簡要描述:GP300探針臺讓您的芯片測試更加簡單,機臺可輕松實現DC ~ THZ測量,提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2022-06-14
  • 訪  問  量:1160

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GP300探針臺12英寸手動探針臺


GP300探針臺產品數據:

  1. 機臺可輕松實現DC ~ THZ測量。

  2. 提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。

  3. 優異的三軸設計,保證I-V測試漏電精度達到fa等級。

  4. 多孔吸附式載物臺設計,更好地兼容薄晶圓固定。

  5. 高品質顯微鏡搭配高分辨率CCD系統,可直觀了解扎針情況,提高扎針的準確性和效率。

  6. 可升級的高低溫系統,為芯片提供更加成熟穩定的老化測試環境。

  7. 緊湊且可靠的機械設計,更適用于芯片的測試及建模系統升級。

  8. 能夠根據未來需求,可提供多種升級模塊,輕松實現探針臺功能升級。

  9. 短軸式拉桿設計,將更加符合新一代芯片系統測試的需求。拉桿在任意位置可停留、極限位置能快速鎖定、分離位可固定,將進一步防止誤操作,提高測試效率,節省成本。


高溫低漏電載物臺.png

溫控系統局部細節圖--高溫低漏電載物臺


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搭載直流和射頻探針座實物照片


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搭載思儀太赫茲系統實物

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