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半自動|射頻| 8寸自動測試探針臺

簡要描述:半自動|射頻| 8寸自動測試探針臺
是一個自動化探針臺,可以從使用一開始或在測試領域內任何需要時轉換為帶有 Waferwallet MAX 的全自動探針臺。

  • 產品型號:TS2000-IFE
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2022-08-10
  • 訪  問  量:1154

詳細介紹

半自動|射頻| 8寸自動測試探針臺



自動探針臺新機:TS2000-IFE 系列



半自動|射頻| 8寸自動測試探針臺



MPI TS2000-IFE 是一個自動化探針臺,可以從使用一開始或在測試領域內任何需要時轉換為帶有 Waferwallet MAX 的全自動探針臺。主要應用在負載拉動、RF、mmW、硅光子學、設計驗證(產品工程)或在定義的測試環境中測試 MEMS 和其他傳感器。


產品簡介:


MPI 同時推出用于太赫茲應用的 200 毫米自動探針臺系統

MPI 提供其200 mm TS2000-IFE THZ-Selection 自動探針臺系統。THZ-Selection 是一種專用的射頻、毫米波、太赫茲和負載牽引探針臺,在 -60 至 300 oC 的寬工作溫度范圍內不會影響測量方向性。它基于 MPI zui通用的 200 毫米平臺 - TS2000-IFE 系列。

200 毫米晶圓的自動化在片測試探針臺系統常用來執行以下操作:



  • 無需額外的 S 波段波導,尤其是在亞太赫茲或太赫茲范圍內。

  • 最小化負載牽引應用的信號路徑并提供最寬的調諧范圍和最高GAMMA。

  • 切換頻段時操作簡單方便。

MPI 專有的 IceFreeEnvironment 技術允許 THZ-Selection 在微定位器和探針卡的幫助下在負溫度下運行。該測試系統能夠通過具有可編程微觀運動的集成探針控制提供晶圓級可靠性。主動隔振緩沖了測試過程中振動誤差的發生。這些功能支持自動化測試,沒有任何錯誤余地,并且具有可驗證的準確性。



產品特點:



專為各種在線應用而設計

• 直流-IV/直流-CV/脈沖-IV應用

• 硅光子學

• 射頻,毫米W,負載拉應用和4端口設置

• 集成電路設計驗證,在-60~300°C寬溫度范圍內的失效分析

• 晶圓級可靠性擴展靈活性


擴展的靈活性


• MPI無冰環境™用于同時使用微型定位器和探針 卡,即使在負溫度

• 可編程顯微鏡運動,以更自動化和易于使用

• 到IC測試儀的最短電纜接口

• 最大限度地減少毫米W和探測與主動探針的板到吸盤的距離

• 支持膠片幀探測


人體工程學設計和足跡

• 簡單的晶片或單個DUT從前面加載

• 集成主動隔振

• 完全集成Prober控制,用于更快、更安全、更方便的系統和測試操作

• 具有自動露點控制的安全測試管理(STM™

• 減少足跡,因為智能冷水機組的空間安排

儀表架選擇較短的電纜和更高的測量動態



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