MPI 8英寸高功率手動探針臺 MPI高功率器件表征系統專為晶圓上高功率器件測試而設計。MPI TS150-HP和TS200-HP探頭系統提供完整的150 mm和200 mm晶圓解決方案。它們設計用于在寬溫度范圍內實現功率半導體的低接觸電阻測量。

MPI 8英寸高低溫探針臺便利的晶圓單片上片，搭配簡單快速的晶圓預對準功能，實現自動化流程簡單化。

高功率探針臺,大功率探針臺,MPI 8英寸大功率半自動探針臺$nMPI的自動化TS2000-HP可在寬溫度范圍內提供可靠的晶圓上大功率設備測量，并且測量能力高達3 kV（三軸）/ 10 kV（同軸）和600 A（脈沖）。先進的ShielDEnvironment™提供低噪聲和屏蔽的測試環境。

200mm 8英寸射頻半自動探針臺 可用于環境溫度和/或僅熱溫度操作模式，速度快達10 Dies /秒（取決于最終配置），這使其成為離散RF設備上預生產電氣測試的理想選擇

半自動|射頻| 8寸自動測試探針臺 是一個自動化探針臺，可以從使用一開始或在測試領域內任何需要時轉換為帶有 Waferwallet MAX 的全自動探針臺。

12英寸手動探針臺 適用于多種晶圓量測應用，如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓級可靠性（WLR)和失效分析（FA）

MPI 12英寸半自動探針臺$nMPI的TS3000是一個300毫米自動測頭系統，專門為產品工程， 故障分析， 設計驗證， 晶圓級可靠性 以及 RF和mmW 應用而設計。

MPI ShielDEnvironment™是一個高性能的本地環境箱，可為超低噪聲，低電容測量提供出色的EMI和不透光的屏蔽測試環境。為了防止卡盤和壓盤之間產生電弧，TS2000-HP壓盤是特別設計的，具有MPI高級ArcShield™。 MPI 8英寸大功率半自動探針 臺